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北京光學(xué)傾斜儀
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產(chǎn)品分類產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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光學(xué)傾斜儀 角度測量儀 平面軸線位置檢測儀
型號:GR/JJ4 40″
北京光學(xué)傾斜儀產(chǎn)品特點
1、測量精度高,采用高靈敏度水準器;
2、全封閉光學(xué)度盤;
3、讀數(shù)更方便,度盤示值與測微的示值同時在目鏡視場中顯示,穩(wěn)定性高;
5、儀器底板硬度高,不易磨損。
北京光學(xué)傾斜儀產(chǎn)品用途
光學(xué)傾斜儀是一種基于水準器的原理,能用來直接測量角度的儀器。可用來測量和安放平面或圓柱在空間與水平面間的角度位置,它可應(yīng)用于安裝或檢查機器和零件的平面軸線在空間的位置,并可間接應(yīng)用于機構(gòu)中各機件相對幾何位置的檢查和測量。適用于廠礦的計量室,檢定站和車間。
技術(shù)參數(shù)
顯微鏡放大倍數(shù):40
金屬度盤格值:1°
玻璃度盤格值:1°
分劃板格值:1′
長水準器格值:30″/2㎜
橫水準器格值:4′/2㎜
測量范圍:±120°
儀器準確度:40″
測量極限誤差:±1′
底板尺寸:50mm×150㎜
儀器重量:2.5㎏(附件包括標配件和選購件,具體內(nèi)容詳見裝箱清單)