測(cè)厚儀厚度測(cè)定儀

簡(jiǎn)要描述：測(cè)厚儀厚度測(cè)定儀
采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。

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所屬分類：測(cè)厚規(guī)/測(cè)厚表

更新日期：2024-06-17

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

詳情介紹

品牌	其他品牌	產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,農(nóng)業(yè),能源	分辨率	0.1 μm

測(cè)厚儀厚度測(cè)定儀

采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。

技術(shù)特征：

嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制
測(cè)試過程中測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)量模式，方便用戶自由選擇
實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的最大值、最小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷
配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測(cè)試的精度和數(shù)據(jù)一致性
系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果
系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看
標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸
支持LystemTM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗(yàn)結(jié)果和試驗(yàn)報(bào)告

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 6672-2001 塑料薄膜和薄片厚度測(cè)定機(jī)械測(cè)量法
GB/T 451.3-2002 紙和紙板厚度的測(cè)定
GB/T 6547-1998 瓦楞紙板厚度的測(cè)定法
ISO 4593-1993 塑料薄膜和薄板機(jī)械掃描測(cè)定厚度
ISO 534-2011 紙和紙板--厚度、密度和比容積的測(cè)定
ISO 3034-2011 瓦楞紙板--單張厚度的測(cè)定
ASTM D374-1999 固體電工絕緣材料厚度的試驗(yàn)方法
ASTM D1777-1996(2007) 紡織材料厚度試驗(yàn)方法
JIS K6250-1997 硫化橡膠及熱可塑性橡膠的物理試驗(yàn)方法通則
JIS K6783-1994 農(nóng)業(yè)用乙烯乙酸乙烯共聚物薄膜
JIS Z1702-1994 包裝用聚乙烯薄膜
BS 3983-1989 紙、紙板的厚度和層積緊度或單頁緊度的測(cè)定方法
BS 4817 瓦楞纖維紙板厚度的測(cè)定方法
TAPPI T411 紙、紙板、復(fù)合紙板厚度測(cè)定

測(cè)厚儀厚度測(cè)定儀 技術(shù)參數(shù)：

負(fù)荷量程：0 ～ 2 mm（常規(guī)）
0 ～ 6 mm；12 mm （可選）
分辨率：0.1 μm
測(cè)量速度：10 次/min （可調(diào)）
測(cè)量壓力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張）
接觸面積：50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制
電源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
凈重：32kg

儀器配置：

標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件

選購(gòu)件：專業(yè)軟件、通信電纜、測(cè)量頭、配重砝碼、微型打印機(jī)

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